cem華盛昌dt-156涂層測(cè)厚儀使用說明書
1、儀器簡(jiǎn)要說明
1、探頭
2、開關(guān)機(jī)按鍵
3、零校準(zhǔn)鍵
4、向下或向右翻滾或遞增按鍵
5、藍(lán)色按鍵，在菜單模式下，用于退出、否、后退功能．或者在正常工作方式下，用于背光開關(guān)鍵
6、主顯示區(qū)
7、測(cè)量單位顯示
8、nfe：指示測(cè)量所得讀數(shù)為非鐵磁性金屬涂層讀數(shù)
fe：指示測(cè)量所得讀數(shù)為鐵磁性金屬涂層讀數(shù)
9、指示探頭工作試驗(yàn)方法：auto方式下，根據(jù)測(cè)量基體自動(dòng)選擇探頭工作
模式．f方式下只工作在磁感應(yīng)試驗(yàn)方法．n方式下只工作在渦流試驗(yàn)方法．
10、指示儀表和計(jì)算機(jī)通信連接正常
11、usb連接端口
12、低電指示
13、儀表工作模式指示：直接模式
和組模式
14、統(tǒng)計(jì)值顯示：平均值z(mì)zui大值z(mì)
zui小可旬標(biāo)準(zhǔn)方差
15、測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)
16、紅色鍵在菜單模式下用于確定、
是、菜單進(jìn)入等菜單操作功能．
17、向上或向左墅滾或遞減按鍵
2準(zhǔn)備開始
2.1電源
按山按鍵開機(jī)．如果沒有州可動(dòng)作和lco顯示r請(qǐng)檢查是否裝好電池
或者可能電池已經(jīng)耗盡，建議更換電池．如果顯示．標(biāo)明電池快要耗
盡，此時(shí)儀表會(huì)在幾秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)機(jī)，請(qǐng)更換電池后重新開始。
2.2替換電池
放置儀表于合適位置日背面朝上．您會(huì)看到電池盒固定螺tt，用合適梅
花螺絲刀扭出螺釘便可去掉電池盒蓋，拔掉電池并重新安裝新電池，之
后裝好電池盒蓋扭好螺釘，電池更換完成。
2.3菜單和基本設(shè)益
（注意：此章節(jié)，在以后所有章節(jié)都會(huì)提到，建議隨時(shí)查閱）開機(jī)后，儀表
處于測(cè)量模式，按紅色按鍵可以進(jìn)入菜單模式，下面列舉了所有菜單項(xiàng)
目，了解各菜單項(xiàng)功能將有助于您順利完成各項(xiàng)工作：
2.3.1菜單>>探頭工作試驗(yàn)方法
>>統(tǒng)計(jì)值瀏覽>>根據(jù)基體自動(dòng)選擇
>>平均值>>磁感應(yīng)（適用鐵磁性基體）
>>zui小值>>渦流（適用非磁性金屬基體）
>>zui大值>>單位設(shè)置
>>統(tǒng)計(jì)數(shù)>>微米
>>標(biāo)準(zhǔn)方差>>英制單位（中國(guó)大陸地區(qū)一般不用此單位）
>>選項(xiàng)>>米
>>測(cè)量方法>>背光
>>單次測(cè)量>>開
>>連續(xù)測(cè)量>>關(guān)
>>工作模式>>測(cè)量模式下統(tǒng)計(jì)顯示選項(xiàng)
>>直接模式>>平均值
>>>組1工作模式>>>zui大值
>>>組2工作模式>>>zui小值
>>>組3工作模式>>>標(biāo)準(zhǔn)方差
>>>組4工作模式
>>自動(dòng)關(guān)機(jī)設(shè)置
>>>自動(dòng)關(guān)機(jī)功能開啟
>>>禁用自動(dòng)關(guān)機(jī)
>>界限報(bào)警設(shè)置
>>界限設(shè)置
>>高限值設(shè)置
>>低限值設(shè)置
>>刪除恢復(fù)界限值設(shè)置到默認(rèn)
>>刪除
>>刪除zui近測(cè)量數(shù)據(jù)
>>刪除當(dāng)前工作組所有測(cè)量數(shù)據(jù)
>>刪除當(dāng)前工作組所有測(cè)量數(shù)據(jù)同時(shí)刪除所有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
>>測(cè)量值瀏覽
>>校準(zhǔn)設(shè)置
>>使能一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)并進(jìn)行l(wèi)c。指示
>>禁用一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)并耽肖lc時(shí)旨云zui近完成的校準(zhǔn)將劉艦懂有效
>>非鐵基體上零校準(zhǔn)恢復(fù)出廠默認(rèn)值
>>鐵基體上零校準(zhǔn)恢復(fù)出廠默認(rèn)值
2.3.2基本設(shè)置
請(qǐng)參考以上菜單安排，按照lco指示，按紅色按鍵進(jìn)行確認(rèn)、是、菜單進(jìn)入、選擇等功能操作。按藍(lán)色鍵進(jìn)行退出、否、后退等功能操作。按向上或向下鍵翻滾選擇項(xiàng)。
2.3.2.1測(cè)量方式
連續(xù)測(cè)量法：此法適合探頭無需抬起而連續(xù)測(cè)量并觀察讀數(shù)的場(chǎng)合．此種情況下，蜂鳴只在探頭接觸到待測(cè)物件時(shí)鳴響一聲，之后將不再鳴響．布郭娜l量工作方式下，讀數(shù)被自動(dòng)洲予流計(jì)計(jì)算直到存儲(chǔ)空可茜．
單次測(cè)量去：探頭垂直迅速的置于待測(cè)物件之上每測(cè)量一點(diǎn)同時(shí)伴隨一聲蜂鳴，讀數(shù)被顯示于lc0．必須提起探頭離州到可金屬物件scm以上，約1.5秒后方可進(jìn)行下一次測(cè)量．每一次測(cè)量的數(shù)據(jù)和連續(xù)方式一樣將被保存和統(tǒng)計(jì)．
2.3.2.2探頭選擇
我們一體化探頭可以工作在三種模式下：
auto：探頭根據(jù)待測(cè)物件性質(zhì)（鐵磁性物質(zhì)或非鐵磁性金屬）自動(dòng)轉(zhuǎn)入
相應(yīng)工作模式。如果待測(cè)物件是鐵鎳等磁性金屬物質(zhì)，探頭將轉(zhuǎn)入磁感
應(yīng)試驗(yàn)方法工作模式．如果待測(cè)物件是非磁性的金屬物質(zhì)，探頭將轉(zhuǎn)入渦
流試驗(yàn)方法工作模式．
fe：探頭將是磁感應(yīng)試驗(yàn)方法工作模式。
no一fe：探頭將是渦流試驗(yàn)方法工作模式。
2.3.2.3單位設(shè)置
您能方便的在公制（微米、毫米）和英制（mils）單位之間切換．請(qǐng)仔細(xì)閱讀菜單安排，按照屏幕提示操作．特別需要提醒的是，在”微米”單位下當(dāng)讀數(shù)數(shù)值超過850微米時(shí)，單位將自動(dòng)轉(zhuǎn)為”毫米”，這是由精度指標(biāo)決定的，請(qǐng)閱讀儀表指標(biāo)章節(jié)．
2.3.2.4總復(fù)位
總復(fù)位將擦除存儲(chǔ)器保存的所有數(shù)據(jù)，包括所有工作模式的讀數(shù)和設(shè)置
（恢復(fù)出廠默認(rèn)），還有它們的統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值和上下限報(bào)警值。但是此操作不會(huì)影響出廠基本校準(zhǔn)值，用戶可放心適用此功能。要進(jìn)行總復(fù)位操作，操作如下：
a關(guān)機(jī)
同時(shí)按z〔ro＋山鍵．
lcd將顯示”suretoreset”此時(shí)按紅色鍵確定進(jìn)行總復(fù)位，否則退出
按藍(lán)色鍵。儀表自動(dòng)重新開機(jī)。
2.3.2.5背光
請(qǐng)看菜單安排章節(jié)，您可以通過菜單開關(guān)背光．此外，在正常測(cè)量模式
下，您可以按藍(lán)色按鍵一次以開關(guān)背光．
2.3.2.6lcd顯示統(tǒng)計(jì)設(shè)置
您可以通過菜單設(shè)置在工作模式下lco顯示的統(tǒng)計(jì)選項(xiàng)（平均值、zui大
值、zui小值和標(biāo)準(zhǔn)方差），設(shè)置完成返回后，被設(shè)置的統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目將顯示
statisticview”菜單項(xiàng)，您可以遍覽當(dāng)下工作組所有統(tǒng)計(jì)值．
2.3.2.7讀數(shù)瀏覽
通過”measurementview”菜單項(xiàng)，您可以瀏覽當(dāng)前工作組所有測(cè)量
讀數(shù)。
2.3.2.8自動(dòng)關(guān)機(jī)
請(qǐng)仔細(xì)閱讀菜單安排章節(jié)，您可以通過菜單關(guān)閉和開啟自動(dòng)關(guān)機(jī)功能．
3測(cè)量、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)處理
儀表提供兩種工作模式二直接模式和組工作模式，其中組工作模式包括
組1一組4共4組。
直接測(cè)量模式（dir）用于快速隨意測(cè)量．在此模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)臨時(shí)
保存在內(nèi)存中，可以通過菜單瀏覽所有已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值，但一旦關(guān)機(jī)、
系統(tǒng)掉電或者從直接模式切換到組工作模式，這些數(shù)據(jù)將全部自動(dòng)丟
失．此模式下讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值和統(tǒng)計(jì)數(shù)被同時(shí)顯示在lco上．此模式下，
zui多將統(tǒng)計(jì)80個(gè)數(shù)據(jù)，一旦超出，讀數(shù)將替換zui舊讀數(shù)并保存更
新統(tǒng)計(jì)值．此模式下，可以單獨(dú)進(jìn)行一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)單獨(dú)設(shè)置高氏
界限報(bào)警。
組測(cè)量模式（groi一4）二每一組工作模式下，系統(tǒng)可保存zui多80個(gè)數(shù)據(jù)、
5個(gè)統(tǒng)計(jì)值．一點(diǎn)二點(diǎn)校準(zhǔn)和高氏界限報(bào)警可以單獨(dú)設(shè)置和保存．
關(guān)徹湘掉電，所有保存值不會(huì)丟失，并且組與組之間相互獨(dú)立不受影
響。需要?jiǎng)h除保存的值，可以通過菜單操作進(jìn)行。當(dāng)測(cè)量數(shù)據(jù)超出80
個(gè)，數(shù)據(jù)測(cè)量可以繼續(xù)進(jìn)行，但是所得數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算，如
有需要，您可以通過菜單刪除組數(shù)據(jù)，請(qǐng)仔細(xì)參閱菜單安排章節(jié)。
請(qǐng)通過菜單選擇當(dāng)前工作組模式：dir或groi一4.
按山鍵同時(shí)探頭請(qǐng)遠(yuǎn)離倒可金屬scm以上，開機(jī)后，儀表默認(rèn)工作在
dir模式下．lco將佰封寺顯示zui近的測(cè)量讀數(shù)。
4校準(zhǔn)和測(cè)量
4.1校準(zhǔn)概述
4.1.1校準(zhǔn)方法
我們擁有四種校準(zhǔn)方法，敘述如下
基本校準(zhǔn)：適用于測(cè)量光滑物件表面涂層，或者測(cè)量物件的材料、面積
和曲葬和我們隨機(jī)附帶基體接近．
零點(diǎn)校準(zhǔn)二建議開始任間一項(xiàng)測(cè)量任務(wù)前都進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，測(cè)量中途出
現(xiàn)可疑誤差，也可隨時(shí)作歸零操作。
一點(diǎn)校準(zhǔn)二預(yù)先估計(jì)待測(cè)量涂層厚度，使校準(zhǔn)點(diǎn)盡量靠近待測(cè)厚度，可
以有效實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。此校準(zhǔn)方法可以輕松地使測(cè)量誤差控制在
士（1％…3%)+1um/1.sum（傳感器自身系統(tǒng)誤差）
二點(diǎn)校準(zhǔn)二和一點(diǎn)校準(zhǔn)相可以盡量使待測(cè)涂層厚度范圍與兩點(diǎn)校準(zhǔn)點(diǎn)
接近，以更州蟹正待測(cè)范圍內(nèi)的誤差。該校準(zhǔn)用于粗糙表面涂層測(cè)量
和高精度的光滑涂層表面測(cè)量。
4.1.2校準(zhǔn)值保存
在伯日可模式下，您所完成的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)都自動(dòng)保存，所有的測(cè)量創(chuàng)冬以zui
新的校準(zhǔn)為準(zhǔn)修正誤差。同時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)校準(zhǔn)值明顯有誤可以通過菜
單刪除組數(shù)據(jù)方式”groupdata”恢復(fù)到出廠默認(rèn)．具體請(qǐng)參閱有關(guān)
章節(jié)。
提示：校準(zhǔn)讀數(shù)在以下情況，您必須重新校準(zhǔn)，否則可能測(cè)量有誤．
--明顯不正確的讀數(shù)
--校準(zhǔn)時(shí)儀表關(guān)機(jī)
4.1.3校準(zhǔn)實(shí)例
校準(zhǔn)是影響測(cè)量精度的關(guān)鍵因素．測(cè)量必須校準(zhǔn)，校準(zhǔn)樣本越接
近被測(cè)樣本，校準(zhǔn)和測(cè)量就越準(zhǔn)確。例如：如果被測(cè)樣本是一個(gè)直徑為
6mm的低碳鋼柱那么無涂層校準(zhǔn)樣本的直徑和材料也應(yīng)該盡量相同．
標(biāo)準(zhǔn)樣本必須在下列幾點(diǎn)上與被測(cè)樣本相符：
表面曲率半徑
基體材料
基體厚度
被測(cè)面積
標(biāo)準(zhǔn)樣本上，校準(zhǔn)點(diǎn)位置盡量與產(chǎn)品的測(cè)量點(diǎn)一致，尤其測(cè)量于小樣本
或邊角位置，此時(shí)用精密支架定位。
4.1.4高精度測(cè)量校準(zhǔn)
為得到高精度測(cè)量，校準(zhǔn)時(shí)，建議在每一點(diǎn)上做多次反復(fù)校準(zhǔn)，這樣儀器
會(huì)自動(dòng)用其平均校準(zhǔn)值作為zui終校準(zhǔn)低詳見4.2這種方法在非平滑，
例如噴丸表面，非常實(shí)用。
4.1.5清潔測(cè)點(diǎn)
校準(zhǔn)前，測(cè)量和探頭頂部的油漬，金屬屑物等必須清除干凈，少量的雜質(zhì)
也會(huì)影響測(cè)量，改變讀數(shù)．
4.2校準(zhǔn)特別提示
對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，基本校準(zhǔn)（出廠默認(rèn)校準(zhǔn)），我們不建議做任間調(diào)整．
為了避免誤操作，本說明書省去了此章節(jié)，若用戶使用中，通過零點(diǎn)校準(zhǔn)，
一點(diǎn)校準(zhǔn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)，仍然不能解決問題，請(qǐng)致電售后服務(wù)，我們將為您
提供。
通過以下方法，您可以進(jìn)入一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)模式，根據(jù)屏幕提示，您可以
正確完成校準(zhǔn)：
首先，通過菜單選擇校準(zhǔn)模式（menu一＞calibration一＞〔nable),lc劇各
會(huì)顯示”cain(0rl一2)zeron(ory):n”表示沒有川可點(diǎn)校準(zhǔn)（前者）
或沒有零校準(zhǔn)（后者）,y”表示已進(jìn)行過零校準(zhǔn)（當(dāng)前測(cè)量是以此零點(diǎn)為
準(zhǔn)）。”ca!1一2”表示有1到2個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)（1表示一點(diǎn)校準(zhǔn)，2表示兩點(diǎn)校準(zhǔn)）.
提示：零點(diǎn)校準(zhǔn)可以不用進(jìn)入此校準(zhǔn)模式，在測(cè)量模式，探頭置于待測(cè)無
涂層基體表面，得到測(cè)量值后提起，按住z〔ro按鍵，聽到嘀一聲響后松
開便成功進(jìn)行一次歸零操作，如此反復(fù)操作可川導(dǎo)到一個(gè)零校準(zhǔn)平均值，
可有效防止零點(diǎn)校準(zhǔn)偶然誤差．
雖然在校準(zhǔn)模式同樣可以正確測(cè)量，但為避免誤校準(zhǔn)操作，完成校準(zhǔn)后，
我們建議通過mun〔菜單相關(guān)設(shè)置退出校準(zhǔn)模式．進(jìn)入測(cè)量模式后，所
有數(shù)據(jù)測(cè)量都將以的零校準(zhǔn)、一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)為準(zhǔn)，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行修
正，顯示和保存修正后的數(shù)值．
校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作：
開機(jī)遠(yuǎn)離州可金屬至少5厘米以上，遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)。
待測(cè)基體和必要的校準(zhǔn)箔片（可用隨機(jī)附帶的5種規(guī)格薄片）.
設(shè)置工作模式：通過菜單系統(tǒng)設(shè)置連續(xù)或單次測(cè)量模式。
4.2.1零點(diǎn)校準(zhǔn)（無剩到可校準(zhǔn)箔）
把探頭快速垂直地放在無涂層基體上．
lc顯示＜x.xum>，在連續(xù)方式和單一方式下測(cè)量方式稍有不同，在本
說明書之前已有介紹．正確得到數(shù)據(jù)后，迅速抬起探頭離開基體至少
5厘米以上。
然后，按住2ero鍵約1.5秒，lc顯示0.0um，校準(zhǔn)完成．
可重復(fù)以上步驟幾次，校準(zhǔn)系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)計(jì)算和使用其平均值．
注意：
有時(shí)，在進(jìn)行零校準(zhǔn)之前，有必要通過菜單刪除舊的零校準(zhǔn)點(diǎn)（具體菜單
項(xiàng)，可參看前面章節(jié)）。因?yàn)?，我們所用的零校?zhǔn)實(shí)際上是zui多5次零校
準(zhǔn)的平均值．按照以上步驟每完成一次，就保存一個(gè)零校準(zhǔn)值，當(dāng)超過
5次后，zui舊的值將被的替換，如此依次，系統(tǒng)自動(dòng)將用zui近5次校
準(zhǔn)值計(jì)算平均得到實(shí)際零校準(zhǔn)值．試想，如果這些操作中，有一次大的
誤差操作，肯定對(duì)zui后平均值影響很大，如果做一次刪除操作，系統(tǒng)將所
有參數(shù)歸o，當(dāng)然就不存在這個(gè)問題了。另外，重新開關(guān)機(jī)也可得到和刪
除同樣的效果。
4.2.2一點(diǎn)校準(zhǔn)
此方法用于較高精度測(cè)量．
零點(diǎn)校準(zhǔn)請(qǐng)參見4.2.1.
將校準(zhǔn)箔片放在無涂層基體上，得到穩(wěn)定數(shù)據(jù)后提起探頭。按up或者
oown調(diào)節(jié)顯示值至所測(cè)箔片厚度。
重復(fù)幾次以上步驟，校準(zhǔn)系統(tǒng)會(huì)計(jì)算平均值作為zui終校準(zhǔn)值．
使用校準(zhǔn)值試測(cè)量。
必要時(shí)需要?jiǎng)h除校準(zhǔn)例如輸入一個(gè)錯(cuò)誤的圈直時(shí)進(jìn)入m〔nu一＞delete
一＞deletegroupdata．注意：這將會(huì)刪除所有測(cè)量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、上下限
報(bào)警數(shù)據(jù)，一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，但此操作不影響零點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)．刪除
所有數(shù)據(jù)后，出廠基本校準(zhǔn)可以保證一定誤差范圍內(nèi)的測(cè)量，用戶不必
擔(dān)心誤操作．若高精度測(cè)量，請(qǐng)重新做一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)．
特別提示二
請(qǐng)仔細(xì)觀察屏幕，calxzerox”之前黑色方塊，每次按up或者oown
鍵一次，它將重新開始計(jì)時(shí)，在305時(shí)間內(nèi)，你可以按一下藍(lán)色的按鍵取
消當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)．在此時(shí)間內(nèi)，對(duì)于當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)，儀器可以容納5次校準(zhǔn)值
并自動(dòng)計(jì)算平均值作為zui終校準(zhǔn)值，當(dāng)滿5次后的校準(zhǔn)值會(huì)替換zui
舊的校準(zhǔn)值，此和零點(diǎn)校準(zhǔn)非常相似，可參考零點(diǎn)校準(zhǔn)．305后，對(duì)此點(diǎn)
的校準(zhǔn)將正式生效左邊黑色方塊自動(dòng)消失，或者提前按zero一次，可
使當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)強(qiáng)制生效．即使長(zhǎng)期進(jìn)行一系列的連續(xù)測(cè)試工作，校準(zhǔn)也
是有必要經(jīng)?？紤]的，它直接影響測(cè)量準(zhǔn)確性。
4.2.3兩點(diǎn)校準(zhǔn)
建議在單次測(cè)量方式下進(jìn)行，請(qǐng)通過菜單轉(zhuǎn)換工作方式．兩點(diǎn)校準(zhǔn)需要
使用2個(gè)不同的箔片．請(qǐng)粗略估測(cè)您實(shí)際工作需要測(cè)量的厚度范圍，此
范圍不宜過大，范圍越小，能獲得的測(cè)量精度越高．然后選擇兩點(diǎn)校準(zhǔn)
所需要的2個(gè)不同厚度標(biāo)準(zhǔn)箔片，此兩標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度盡量靠近并包含實(shí)
際工作需要測(cè)量的厚度測(cè)量范圍。此方法尤其適用于非平滑，例如噴丸
表面或用于高地測(cè)量。校準(zhǔn)步驟如下：
零點(diǎn)校準(zhǔn)．參見4.2.1
一點(diǎn)校準(zhǔn)．參見4.2.2
重復(fù)步驟2。
使用校準(zhǔn)值試測(cè)量。
說明二二點(diǎn)校準(zhǔn)實(shí)際上就是兩次一點(diǎn)校準(zhǔn)。如果系統(tǒng)只存入了一點(diǎn)的校
準(zhǔn)值，則修正方式就是一點(diǎn)修正方式，若再次存入一點(diǎn)校準(zhǔn)，則修正方式
自動(dòng)成為二點(diǎn)修正方式．zui后實(shí)際顯示和存儲(chǔ)的讀值則是基本校準(zhǔn)下
所得數(shù)據(jù)加零點(diǎn)修正、一點(diǎn)或者二點(diǎn)修正值，注意，一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)不
會(huì)同時(shí)存在。
4.2.4噴丸表面校準(zhǔn)方法
噴丸表面的物理性質(zhì)會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)偏差，平均覆層厚度可用下面的方法確
定（統(tǒng)計(jì)程序在這里非常有用）二
方法一：
按照4.2.2或者4.2.3的方法校準(zhǔn)儀表．校準(zhǔn)基體選擇光滑且曲率半徑
和基體材料與待測(cè)試件相近．
在無覆層的經(jīng)過同樣噴丸處理的表面測(cè)量10次左右，得到一個(gè)平均值，
記作xo。
在有涂層的噴丸的被測(cè)樣本上測(cè)10次得到平均值xm.
xm與xo的差（xm一xo）土s就是平均覆層厚度，其中s是xm與xo兩者
標(biāo)準(zhǔn)方差中的較大者．
方法二：
無涂層噴丸基體上進(jìn)行多次零校準(zhǔn)。然后在無涂層的基體上，用一片
校準(zhǔn)箔做一點(diǎn)校準(zhǔn)。該箔片可由數(shù)片soum的箔片組成箔厚盡量與
預(yù)計(jì)涂層厚度接近。
測(cè)量待噴丸涂層厚度此厚度應(yīng)為5一10個(gè)單次測(cè)量結(jié)果的平均值．統(tǒng)
計(jì)程序在這里非常有用．
方法三二
此種方法測(cè)量的結(jié)果也十分可靠．如4.2.3所述，只需使用兩個(gè)箔片，進(jìn)
行2點(diǎn)校準(zhǔn)。為了zui大程度地接近各自被測(cè)表面的性質(zhì)，箔片的厚度可
以通過使用多片每片厚度為50um的校準(zhǔn)箔片疊加得到。厚度測(cè)量結(jié)
果應(yīng)為5一10個(gè)單次測(cè)量結(jié)果的平均值。
注意：對(duì)于大于30oum的涂層，粗糙程度的影響并不十分重要且沒有必
要使用上述校準(zhǔn)方法．
4.3測(cè)量中的計(jì)算方法
仔細(xì)校準(zhǔn)以后，所有測(cè)量偏差將會(huì)在洲門承諾的誤差范圍之內(nèi)。發(fā)電機(jī)
等大功率電器設(shè)備附近的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)影響讀數(shù)，建議盡量遠(yuǎn)離。當(dāng)使用統(tǒng)
計(jì)程序獲取平均值的時(shí)候建議將探頭放置于具有典型意義的測(cè)點(diǎn)上連
續(xù)測(cè)量多次?？赏ㄟ^菜單系統(tǒng)刪除任何錯(cuò)誤或者不符讀數(shù)。zui終的讀
數(shù)由統(tǒng)計(jì)程序和翻門承諾的測(cè)量誤差范圍共同決定，如下所述．
涂層厚度d=x±s±u
例如
讀數(shù)
讀數(shù)：150um,156um,153um
平均值：x=153um
標(biāo)準(zhǔn)偏差s＝士3um
測(cè)量偏差u＝土（3%ofreading+lum)
d=153士3±(4.59um+lum)
=153土8.59um
5上下限報(bào)警功能
無論在直接（dir）工作方式，還是在組工作方式（gro)，數(shù)據(jù)測(cè)量的州可
時(shí)候，您可以進(jìn)入mune菜單設(shè)置上下限（具體請(qǐng)看菜單章節(jié)），一旦設(shè)
置成功，測(cè)量數(shù)據(jù)超出此限范圍的時(shí)候，屏幕拱并良警提示：
h：讀數(shù)超過zui高限額
l：讀數(shù)超過zui低限額
6測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
厚度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)zui多可統(tǒng)計(jì)80個(gè)讀數(shù)（groi~gro4：總共zui多可儲(chǔ)存
4x80=320個(gè)讀數(shù)）．此外，在dir模式除了讀數(shù)不存儲(chǔ)外，其化湘gro
模式相同。
no：二開機(jī)以來進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的讀數(shù)個(gè)數(shù)
avg：平均值
sdev：標(biāo)準(zhǔn)方差
max：zui大讀數(shù)
min：zui小讀數(shù)
6.1統(tǒng)計(jì)條例
平均值（x)
讀數(shù)之和除以讀數(shù)的個(gè)數(shù)x＝x/n
標(biāo)準(zhǔn)方差（sdev.)
標(biāo)準(zhǔn)方差表征讀數(shù)的分散度．讀數(shù)越分散標(biāo)準(zhǔn)方差就越大，標(biāo)準(zhǔn)方差
是方差s2的平方根．
偏差s2=e(x-x）/(n-1）
標(biāo)準(zhǔn)偏差s=s2開平方
注意：當(dāng)出現(xiàn)異常或不確定測(cè)量值時(shí)應(yīng)馬上刪除，請(qǐng)查看m〔nu中的刪
除功能。
6.2存儲(chǔ)益處
在組測(cè)量模下，如果超出存儲(chǔ)能力（80個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)），測(cè)量仍可繼續(xù)進(jìn)行，
但所有數(shù)據(jù)不計(jì)入統(tǒng)計(jì)．在單次測(cè)量方式下，如果存儲(chǔ)器已滿，lco顯
示屏上會(huì)顯示”「ull”字樣。
直接測(cè)量模式下，如果存儲(chǔ)器已滿，數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)代替zui舊的數(shù)據(jù)，統(tǒng)
計(jì)值仍繼續(xù)更新。
刪除功能
刪除zui后一個(gè)讀數(shù)：如果你發(fā)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果不正確，你可以通過此功能刪
除zui后一個(gè)讀數(shù)。同時(shí)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)更新。
刪除所有數(shù)據(jù)二你可以刪除當(dāng)前工作模式下的所有統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
全部刪除二這一功能會(huì)刪除該組所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值、上下限
報(bào)警設(shè)置值。
以上功能，具體操作，請(qǐng)參看菜單章節(jié)．
傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)
所有工作模式下的測(cè)量數(shù)據(jù)都可以通過usb口下載到電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)分
析，詳情請(qǐng)查看配套軟件相關(guān)指南。
注意：建議在儀器與電腦連接時(shí)不做州可測(cè)量。
故障排除
下面的故障符號(hào)可提示如何去識(shí)別和排除故障。
errl：渦流探頭有異常
err2：磁感應(yīng)探頭有異常
err3：兩探頭均有異常
err4,5,6：保留未使用
err7：二厚度測(cè)量結(jié)果錯(cuò)誤
磁性測(cè)厚儀的簡(jiǎn)介 磁性測(cè)厚儀它采用電磁感應(yīng)試驗(yàn)方法，適用于測(cè)量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度?？梢詼y(cè)量鋼鐵上的各種電鍍（鍍鎳除外）、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測(cè)量各種金屬箔（如銅箔、鋁箔、金箔等）和非金屬薄膜（如紙張、塑料等）的厚度。本儀器可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
磁性測(cè)厚儀分為兩種，一種叫磁力測(cè)厚儀，一種叫磁感測(cè)厚儀。
磁力測(cè)厚儀是通過磁鐵的測(cè)頭與導(dǎo)磁基材之間的磁吸力大小與處于兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測(cè)量覆層的厚度。
磁感應(yīng)試驗(yàn)方法就是利用測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆面而流入鐵基材的磁通大小來測(cè)定覆層的厚度，覆層俞厚，測(cè)通越小，然后經(jīng)過處理換算得到涂層厚度的。
磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。
利用磁性測(cè)厚儀試驗(yàn)方法制成測(cè)厚儀即為磁性測(cè)厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用。
磁性測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。
磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。