鐵電材料測試系統(tǒng)適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、i—v特性及開關(guān)特性，可地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的pr值?？蓽y鐵電體材料的電滯回線及i—v特性，用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的研究，也可作為近代物理實驗中的固體物理實驗設(shè)備，同時可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測設(shè)備。
所有的鐵電材料都同時具備鐵電性和壓電性。鐵電性是指在一定溫度范圍內(nèi)材料會產(chǎn)生自發(fā)極化。由于鐵電體晶格中的正負(fù)電荷中心不重合，因此即使沒有外加電場，也能產(chǎn)生電偶極矩，并且其自發(fā)極化可以在外電場作用下改變方向。
鐵電材料測試系統(tǒng)不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化pr、漏電流等參數(shù)，還可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較全面準(zhǔn)確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。該系統(tǒng)配鐵電高壓模塊和鐵電高壓驅(qū)動模塊，可測量陶瓷材料的鐵電性能。
在外加電場的作用下，其電極化方向可以發(fā)生改變的一類材料，如鈦酸鉛、鈦酸鋇等材料。鐵電材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性，測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應(yīng)，此種材料的電滯回線(動態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性，在操作條件下記錄單元對電容測試芯片直接存取的仿真，測量小信號材料的壓電系數(shù)與介電常數(shù)。
在高密度、低功耗、高度集成的邏輯和存儲器件中具有重要應(yīng)用價值，基于鐵電量子隧穿效應(yīng)，亦可用于構(gòu)建新型的紅外熱探測器件以及高靈敏新型光電探測器件，鐵電隧道結(jié)器件除上述潛在應(yīng)用外，還具有易與硅基電路集成、大面積制備、可卷曲特性等突出優(yōu)勢，這將有利于其在柔性光/電子器件領(lǐng)域的應(yīng)用。