智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品主要技術(shù)指標(biāo)
一、概說
智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（cx）。它淘汰了qsi高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印，使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。sxjs-iv體積小、重量輕，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
二、技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境溫度：0~40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）
2、相對(duì)濕度：30％~70％
3、供電電源：電壓：220v±10％，頻率50±1hz
4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=4900mm×300mm×390mm
5、重量：約18kg
6、輸出功率：1kva
7、顯示分辨率：4位
8、測(cè)量范圍：
介質(zhì)損耗（tgδ）：0-50％
電容容量（cx）和加載電壓：
2.5kv檔：≤300nf（300000pf）
3kv檔：≤200nf（200000pf）
5kv檔：≤76nf（76000pf）
7.5kv檔：≤34nf（34000pf）
10kv檔：≤20nf（20000pf）
9、基本測(cè)量誤差：
介質(zhì)損耗（tgδ）：1％±0.07％（加載電流20μa~500ma）正接
介質(zhì)損耗（tgδ）：2％±0.09％（加載電流5μa~20ma）反接
電容容量（cx）：1.5%±1.5pf
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三、結(jié)構(gòu)
儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5kv~10kv五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量對(duì)無需任何外部設(shè)備。接線與qsi電橋相似，但比其方便。
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