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      《電源管理芯片的測試方法》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)公開征求意見

      發(fā)布時間:2024-08-20
      由湖北秉正訊騰科技有限公司、奇瑞汽車股份有限公司、恒辰微電子(山東)有限公司、深圳市萬微半導(dǎo)體有限公司、天水天光半導(dǎo)體有限責(zé)任公司、西安鼎君科技有限公司、中科新銳集成電路(深圳)有限公司起草的《電源管理芯片的測試方法》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)已完成征求意見稿,現(xiàn)公開征求意見。
      隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,電子行業(yè)出現(xiàn)了越來越多的電子器件,由于不同的電子器件的特性、工作環(huán)境限制以及功能限制等方面并不相同,在同一個系統(tǒng)中,需要不同的電壓對不同的電子器件進(jìn)行供電,為實現(xiàn)該目的,常常會在電源以及電子器件之間設(shè)置一個開關(guān)電源電路進(jìn)行耦合?,F(xiàn)有技術(shù)中,變壓常常使用開關(guān)電源電路,開關(guān)電源電路輸出的電壓值單一,且開關(guān)電源電路需要通過控制信號的高低電平變化對整個開關(guān)電源電路的輸出進(jìn)行控制,在控制信號的高低電平變化不滿足開關(guān)電源電路內(nèi)部的開關(guān)閾值電壓 15 要求時,開關(guān)電源電路的輸出信號會出現(xiàn)震蕩甚至無發(fā)產(chǎn)生輸出信號的現(xiàn)象,無法輸出穩(wěn)定的、滿足負(fù)載正常工作需求的電壓值。
      電源芯片可以解決上述問題,電源芯片的使能引腳連接所述可調(diào)鉗位模塊的輸出端,電源芯片的信號輸入引腳連接所述可調(diào)鉗位模塊的第二輸入端,電源芯片的反饋引腳連接所述調(diào)壓模塊的輸入端,電源芯片的信號輸出引腳連接調(diào)壓模塊的輸出端以及負(fù)載;可調(diào)鉗位模塊的第一輸入端連接控制信號源;可調(diào)鉗位模塊,用于調(diào)節(jié)接收到的所述控制信號源傳輸?shù)目刂菩盘柕碾妷赫穹约半妷浩茫⒄{(diào)節(jié)后的所述控制信號傳輸至所述電源芯片;電源芯片,用于在接收到的所述控制信號時,通過所述信號輸出引腳輸出穩(wěn)定的輸出信號至負(fù)載;調(diào)壓模塊,用于在接收到電源芯片的反饋引腳輸出的反饋信號時,調(diào)節(jié)輸出信號的電壓值。
      綜上所述,電源管理芯片的測試方法團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)的立項具有規(guī)范電源管理芯片的外觀、電特性、溫度特性、靜電防護(hù)的重要意義和必要性。
      本文件按照gb/t 1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。
      本文件規(guī)定了電源管理芯片的外觀檢測、電特性測試、溫度特性測試、靜電防護(hù)測試以及檢驗規(guī)則等測試方法。本文件適用于電源管理芯片的測試方法。
      本文件規(guī)定了電源管理芯片的外觀檢測、電特性測試、溫度特性測試、靜電防護(hù)測試以及檢驗規(guī)則等測試方法如下:
      a)外觀檢測:芯片的外觀檢驗應(yīng)在光線充足的自然光或在40w 的日光燈下,垂直距離 1.5m左右的條件下, 距樣件0.4m的條件下,進(jìn)行裸視觀察(裸視者視力不得低于1.0);檢查引腳未損壞,芯片標(biāo)識清晰可見,無明顯應(yīng)力破損,視為合格芯片;
      b)電壓性測試主要包括以下幾個部分:
      1)輸入電壓:環(huán)境條件應(yīng)符合溫度在-20 ℃~70 ℃之間;相對濕度≤80 %;大氣壓力在 86 kpa~106 kpa 之間;
      2)測試設(shè)備:電特性測試前,應(yīng)對所用到的所有設(shè)備進(jìn)行檢查,查看設(shè)備是否經(jīng)過校準(zhǔn),校準(zhǔn)證書是否在有效期內(nèi),測試設(shè)備性能是否滿足芯片測量要求;
      3)按照芯片電特性的要求,對芯片施加激勵進(jìn)行測試,記錄測試結(jié)果,測試結(jié)果全部滿足要求,芯片視為合格。
      c)溫度特性測試主要包括:
      1)低溫測試:將樣品芯片放入溫度為實驗室溫度的試驗箱中,給樣品通電并進(jìn)行功能檢測,樣品應(yīng)處于運行狀態(tài),然后將溫度調(diào)節(jié)至-55±2℃,當(dāng)樣品的溫度到達(dá)穩(wěn)定后,在該溫度下持續(xù) 1000h,試驗期間,樣品應(yīng)能夠處于正常運行狀態(tài),試驗后,芯片能夠正常工作;
      2)高溫測試:將樣品芯片放入溫度為實驗室溫度的試驗箱中,給樣品通電并進(jìn)行功能檢測樣品應(yīng)處于運行狀態(tài),然后將溫度調(diào)節(jié)至 125±2℃,當(dāng)樣品的溫度到達(dá)穩(wěn)定后在該溫度下持續(xù) 1000h,試驗期間,樣品應(yīng)能夠處于正常運行狀態(tài),試驗后,芯片能夠正常工作。
      d)靜電防護(hù)測試:人體靜電防護(hù)性能測試應(yīng)滿足 gb/t17626.2 的要求,采用靜電放電測試儀,通過人體放電模型直接對芯片引腳施加±9000v 的脈沖電壓,試驗后芯片能夠正常工作視為合格。
      檢驗規(guī)則:產(chǎn)品檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。
      更多詳情請見附件。
      相關(guān)資料下載: 《電源管理芯片的測試方法》編制說明.pdf 《電源管理芯片的測試方法》征求意見稿.pdf 中國國際科技促進(jìn)會標(biāo)準(zhǔn)征求意見匯總表.pdf
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